A650具有制样简单、分析速度快、分析含量范围宽、重现性好、准确度高等优点。采用的是我司自主研发的 SES 信号处理系统（数字多道），能够有效提高峰背比，让测量更精准；准直器 + 多组合滤光片，软体自动切换，满足各种测试应用；抽真空系统，能够优化测试环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度，独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。

T450S是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它采用的SDD探测器，可测量5层 (4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素，具备自动修正X射线重叠谱线功能，测量精度高、稳定性好,测量结果精确至uin，测量时间短，非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析。可广泛用于电子元器件、半导体、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、卫浴洁具、首饰饰品多个行业表面镀层厚度的测量及材料分析。